一句話總結：光焱科技針對汎銓提出的新台幣2億元專利侵權訴訟發出嚴正聲明，強調汎銓以舊世代「金相顯微鏡」專利指控其先進「高光譜成像技術」毫無根據，並譴責此為干擾市場的不正當競爭手段。
核心要點
- 汎銓科技於25日發布重訊，指控光焱科技侵害其第 I870008B 號「光損偵測裝置」發明專利，並求償高達新台幣 2億元。
- 光焱科技於26日隨即發布新聞稿反擊，表示截至目前為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件。
- 光焱科技發言人廖清霖嚴正譴責同業，在未經司法程序前即透過媒體發布「資訊煙霧彈」，此舉旨在以法律手段干擾市場正常運作並阻礙產業創新。
- 光焱科技明確指出，雙方在檢測技術的世代上存在顯著落差：汎銓所宣稱的專利採用傳統「金相顯微鏡」方案進行光損量測，而光焱則基於次世代、更先進的「高光譜成像技術感測模組」進行矽光子光學檢測。
- 針對汎銓專利曾挺過17項舉發，光焱科技反駁指出，該專利之所以維持有效，主因是舉發人當時提出的更先進技術與零組件，被主管機關認定與汎銓採用的傳統金相顯微鏡技術「無關」，這恰恰證明該專利僅保障 舊世代技術。
- 光焱科技強調，公司深耕光學與光電子晶片檢測領域長達 16年，所有核心產品均為團隊自主研發，並重申公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響。
- 光焱科技進一步闡明，「專利」保障的是特定的技術實施手段，而非將「光損檢測」一詞註冊為商標以買斷市場，若依汎銓的邏輯，連國際光學大廠蔡司（Zeiss）進軍此領域也將構成侵權，凸顯其說法在產業技術與法律邏輯上皆有失偏頗。
一句話結論
面對汎銓科技的專利侵權指控，光焱科技堅定反擊，認為這是一場「舊技術」試圖箝制「新世代創新」的無效訴訟，並誓言捍衛其自主研發的智慧財產權及市場正常競爭秩序。