關鍵數字：光焱科技於2026年3月26日嚴正駁斥同業汎銓科技的專利侵權指控，強調雙方在檢測技術上存在顯著的世代落差，並非「光損檢測」一詞可無限上綱的市場壟斷。
📊 爭議核心數據解析
針對汎銓科技（6830）單方面透過公開資訊觀測站及記者會宣稱光焱科技（7728）侵害其第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並提出高額求償，光焱科技於3月26日強硬回擊。光焱科技明確指出，截至目前為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件。此舉凸顯汎銓在未經完整司法程序前，即透過媒體發布資訊，這種阻礙產業創新的競爭手段，讓光焱科技深感遺憾，並予以嚴正譴責。
有趣的是，這起專利爭議的核心，其實是兩家公司在技術發展上的「世代」差異。光焱科技認為，拿傳統技術的專利來指控次世代創新，在技術與法律邏輯上都站不住腳。
技術世代差異解讀
深入分析，光焱科技與汎銓科技在檢測技術的基礎上，確實存在著顯著的代差。汎銓所宣稱的專利，其核心是採用傳統的「金相顯微鏡」方案來進行光損量測。然而，光焱科技則是以次世代、更為先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心技術。這項技術不僅能高度整合於客戶端的系統，例如探針台或電測機，直接進行矽光子光學檢測，更將光損檢測作為其在矽光子晶片檢測多功能模組中的一項應用。說真的，用金相顯微鏡的專利來控告高光譜影像感測模組，就好比用舊式的黑白電視專利，去規範最新的8K超高畫質顯示技術，兩者根本不可同日而語。
專利有效性與範圍分析
汎銓科技曾在記者會上高調宣稱其專利曾挺過17項舉發而維持有效，這看似強而有力的論點，卻被光焱科技提出專業見解予以反擊。經檢視公開資料，該專利舉發案之所以不成立，關鍵在於當時的舉發人提出了更先進的檢測技術與零組件作為證據，但主管機關卻認定這些新技術與汎銓所採用的傳統金相顯微鏡技術「無關」。這恰恰證明了汎銓的專利所保障的，僅限於其自身傳統技術的實施手段，而非廣泛的光損檢測概念。換句話說，這反而明確證實了光焱科技所採用的高光譜成像系統，與汎銓的技術截然不同，自然毫無侵權之疑慮。
話說回來，產業界皆知，「專利」保障的是特定的技術實施手段，而非將某個功能名稱註冊為商標來買斷整個市場。光焱科技強調，不能因為汎銓針對其自有技術申請了專利，就無限上綱地認定市場上所有具備「光損檢測」功能的設備都侵害其權益。如果按照這種邏輯，近期國際光學大廠蔡司（Zeiss）宣布進軍光損檢測領域，難道也構成對汎銓的侵權？此舉凸顯汎銓說法在產業技術與法律邏輯上皆有失偏頗。
產業競爭與未來展望
光焱科技深耕光學與光電子晶片檢測領域長達16年，一直以來都極度尊重智慧財產權。公司所有核心產品均為團隊自主研發，並未且無須使用其他公司的技術與專利。面對此次同業的不實指控與行銷操作，光焱科技強調，截至2026年3月，公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響。後續將積極配合司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東的合法權益。這起事件不僅是兩家公司的專利糾紛，更反映出新舊技術交替之際，產業競爭格局的變化與挑戰。
此事件對產業的啟示
這起專利爭議，其實給了整個半導體檢測產業一個重要的啟示：創新與智慧財產權的界線，應當清晰且合理。在技術快速迭代的時代，專利應當鼓勵創新，而非成為阻礙新技術發展的工具。光焱科技的案例提醒我們，當市場上出現更先進、更具效率的次世代技術時，舊有專利不應被無限擴張解釋，進而壓制新興技術的成長。這不僅是保護個別公司的權益，更是維護整個產業健康發展的關鍵。未來，隨著矽光子等前瞻技術的發展，類似的專利界定與競爭議題，勢必會更加頻繁地浮現。
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