一句話總結：光焱科技嚴正駁斥汎銓科技高達兩億元的專利侵權指控，強調雙方技術世代存在根本性差異，並譴責同業試圖以舊專利阻礙產業創新。
核心要點
- 侵權爭議核心： 汎銓科技指控光焱科技侵害其「光損偵測裝置」發明專利，並求償 **2億元**；不過，光焱聲明截至目前 **尚未收到任何法院訴訟函件**。
- 技術世代鴻溝： 光焱明確指出，汎銓專利仰賴傳統的 **金相顯微鏡** 進行光損量測，而光焱則採用次世代、更先進的 **高光譜成像技術感測模組**。
- 創新應用整合： 光焱的 **高光譜成像系統** 能高度整合於客戶端的探針台與電測機，直接實現 **矽光子光學檢測**，其光損檢測功能僅是多功能模組的其中一環。
- 專利舉發真相： 汎銓雖強調其專利曾挺過17項舉發，但光焱反擊指出，該舉發不成立是因舉發人證據與汎銓的傳統技術 **「無關」**，反而證明其專利範圍僅限於舊有技術。
- 專利範圍誤解： 光焱強調，專利應保障 **特定技術實施手段**，而非將「光損檢測」一詞註冊為商標來 **買斷市場**，不應將市場上所有具備此功能的設備都視為侵權。
- 營運穩健承諾： 光焱深耕光學與光電子晶片檢測領域 **長達16年**，面對不實指控，公司營運、業務及設備出貨皆 **正常進行**，財務業務不受影響，將積極捍衛合法權益。
一句話結論
光焱科技堅定認為汎銓的專利指控在技術與法律層面都站不住腳，雙方技術世代的鴻溝清晰可見。這場爭議不僅關乎兩家公司，更反映了產業在技術創新與專利保護之間的微妙平衡。
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